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UV-M紫外輻照計(ji)適用于殺菌、光刻、固化、紫外光源、探(tan)傷、材料(liao)老化、水處理、醫療、育種等領(ling)域的紫外輻照度測量工作。使用環(huan)境:溫度(20±20)℃;濕度80%
UV-365便攜(xie)式紫(zi)外線強(qiang)度計(雙通(tong)道)采用SMT貼片技(ji)術,選(xuan)用高(gao)精度低功耗數字芯(xin)片,儀(yi)器外殼為流(liu)線型(xing)設計,探測器經(jing)過嚴格的光(guang)譜及(ji)角度特性(xing)校正,性(xing)能穩定,適(shi)用性(xing)強(qiang)。適(shi)用于光(guang)化(hua)學、高(gao)分子材料老化(hua)、紫(zi)外光(guang)源、以及(ji)大規模集成電路(lu)光(guang)刻等領域的紫(zi)外輻照度測量(liang)工作(zuo)。
便(bian)攜(xie)式紫外(wai)線強度計UV-313采用SMT貼片技術,選(xuan)用高(gao)精度低功耗(hao)數字芯片,儀器(qi)外(wai)殼為流線型設計,探測器(qi)經(jing)過嚴格的(de)光(guang)(guang)譜及(ji)角(jiao)度特(te)性(xing)校正,性(xing)能穩(wen)定,適用性(xing)強。適用于光(guang)(guang)化(hua)學、高(gao)分子材料老化(hua)、紫外(wai)光(guang)(guang)源、以及(ji)大規模集成電路(lu)光(guang)(guang)刻等領域(yu)的(de)紫外(wai)輻照(zhao)度測量工作。
紫外(wai)(wai)輻(fu)照計(ji)UV-A采用(yong)(yong)SMT貼片技術,選用(yong)(yong)高精度低功耗數字芯片,儀器(qi)外(wai)(wai)殼為流線型(xing)設(she)計(ji),探測(ce)器(qi)經過(guo)嚴格(ge)的(de)光譜及(ji)角度特性(xing)校(xiao)正,性(xing)能穩定,適用(yong)(yong)性(xing)強(qiang)。適用(yong)(yong)于光化學、高分子材料老化、紫外(wai)(wai)光源、以及(ji)大規模集成電路光刻等(deng)領域(yu)的(de)紫外(wai)(wai)輻(fu)照度測(ce)量工作。
便攜式(shi)紫外線強(qiang)度計(ji)(ji)UV-B采(cai)用(yong)SMT貼片技術,選用(yong)高精度低功耗數字芯片,儀器外殼為流線型設計(ji)(ji),探測(ce)(ce)器經過嚴(yan)格的(de)光(guang)(guang)譜及(ji)角(jiao)度特性校正,性能穩定(ding),適用(yong)性強(qiang)。便攜式(shi)紫外線強(qiang)度計(ji)(ji)適用(yong)于光(guang)(guang)化學、高分子材料老化、紫外光(guang)(guang)源、以及(ji)大規(gui)模集成電路光(guang)(guang)刻等領域的(de)紫外輻(fu)照度測(ce)(ce)量工作。便攜式(shi)紫外線強(qiang)度計(ji)(ji)廣泛運(yun)用(yong)衛生監(jian)督。