當次使用(yong)(yong)拉曼(man)光譜或操作軟件時，用(yong)(yong)戶經常(chang)會(hui)遇到一(yi)些所謂(wei)的(de)共同(tong)問題(ti)的(de)困擾，這些“共同(tong)問題(ti)”可以用(yong)(yong)較為簡單的(de)方(fang)法(fa)解(jie)決(jue)。下面列出一(yi)些便攜式拉曼(man)光譜儀常(chang)見的(de)問題(ti)和解(jie)決(jue)方(fang)法(fa)。

    1、為什么儀器不(bu)工作(zuo)？
　　
　　新手或(huo)有一定操作經驗(yan)的(de)實驗(yan)員(yuan)或(huo)多或(huo)少會碰到這個“嚴(yan)重”問題，可按(an)順序(xu)檢查下(xia)列(lie)各項以保證儀器和(he)所有附件都正確接通。

　　檢查(cha)儀器和(he)所有(you)附件插座都插好并接通(tong)電源；
　　保證激(ji)光(guang)器(qi)（如果附帶電源）都插(cha)好并接通，由于激(ji)光(guang)器(qi)有(you)不(bu)同種(zhong)類，可參照每個激(ji)光(guang)器(qi)的說明書(shu)獲取進一步的幫助(zhu)；
　　在有兩個或多個激光器(qi)的(de)系統中，確(que)保聯鎖系統設(she)置在正(zheng)確(que)的(de)位置上，正(zheng)確(que)的(de)激光器(qi)被接通；
　　檢查儀器的(de)外(wai)罩處(chu)于安全的(de)關閉狀態，聯(lian)鎖裝置正(zheng)在運轉。
　　如果(guo)以上操作都已經檢查過，便可(ke)準備(bei)進行光(guang)譜測(ce)試了(le)。將樣品放置在顯微鏡下，啟動光(guang)譜操作軟件，如果(guo)仍不能得到光(guang)譜，再(zai)檢查下面各項：
　　保證樣品被(bei)正確地放置在顯微鏡(jing)下，測量(liang)時經(jing)常需(xu)改變不同的(de)測試區域以避(bi)免因樣品不純帶來(lai)一些非期(qi)望結果的(de)可能；
　　保證(zheng)激光(guang)正(zheng)確輻照在樣品上(shang)，保證(zheng)顯微鏡光(guang)圈的(de)孔(kong)徑設置正(zheng)確并處于正(zheng)確的(de)位置上(shang)（不同品牌的(de)拉(la)曼光(guang)譜儀按(an)各自的(de)要(yao)求處理）；
　　檢查(cha)所有軟件窗(chuang)口的設置是否正確；
　　檢查成(cheng)像區域(yu)設置窗口的(de)數(shu)值(zhi)并保證激光(guang)像點處(chu)于該(gai)區域(yu)的(de)中心(xin)。標準成(cheng)像區域(yu)應該(gai)是激光(guang)像點中心(xin)垂直(zhi)方向兩邊(bian)各10個像元。檢查狹縫的(de)設置，當進行(xing)標準操作時，狹縫應為(wei)50μm。
　　
　　如果CCD探測器(qi)飽和了，將得不到任何有用(yong)的信息(xi)。可采用(yong)降(jiang)低(di)激(ji)發光功(gong)率(lv)或提(ti)高(gao)儀器(qi)的共焦程(cheng)度來(lai)避免。
　　
　　當檢(jian)查完上述各項后(hou)，應該可(ke)以得到一(yi)張樣品的(de)(de)拉曼(man)(man)譜(pu)圖。如仍然不能(neng)得到譜(pu)圖，可(ke)先(xian)嘗(chang)試(shi)測試(shi)單(dan)(dan)晶硅(gui)的(de)(de)拉曼(man)(man)譜(pu)。單(dan)(dan)晶硅(gui)是良(liang)好(hao)的(de)(de)拉曼(man)(man)散射體(ti)，可(ke)以用(yong)來幫助驗證儀器的(de)(de)性(xing)能(neng)。如果用(yong)單(dan)(dan)晶硅(gui)樣品可(ke)以獲取硅(gui)的(de)(de)520cm-1峰，再(zai)嘗(chang)試(shi)測試(shi)樣品。現在(zai)用(yong)戶(hu)可(ke)以得到樣品的(de)(de)拉曼(man)(man)信號，但可(ke)能(neng)噪聲較大。在(zai)這種情況下(xia)，可(ke)參照Q4的(de)(de)建(jian)議來提高信噪比和(he)信背比。
　　
　　2、為什(shen)么得到的光譜(pu)(pu)中總是有(you)隨機的、尖銳的譜(pu)(pu)線？
　　
　　這些(xie)譜(pu)(pu)線(xian)(xian)(xian)一般被認為(wei)是宇(yu)宙(zhou)射(she)線(xian)(xian)(xian)。宇(yu)宙(zhou)中的(de)(de)高能粒子輻照在(zai)CCD探(tan)測器上(shang)會導致電(dian)子的(de)(de)產生(sheng)(sheng)進而被相機(ji)解(jie)釋為(wei)光(guang)的(de)(de)信號(hao)。宇(yu)宙(zhou)射(she)線(xian)(xian)(xian)在(zai)時間和產生(sheng)(sheng)的(de)(de)光(guang)譜(pu)(pu)位移上(shang)*是隨機(ji)的(de)(de)，它(ta)們有(you)很大的(de)(de)強度、類似(si)發射(she)譜(pu)(pu)線(xian)(xian)(xian)、半(ban)高寬較小(<1.5m-1)。為(wei)確認宇(yu)宙(zhou)射(she)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)存(cun)(cun)在(zai)，可(ke)馬上(shang)重新掃描光(guang)譜(pu)(pu)會發現峰的(de)(de)消失(shi)。如果(guo)譜(pu)(pu)線(xian)(xian)(xian)依然存(cun)(cun)在(zai)，則很有(you)可(ke)能是室內光(guang)線(xian)(xian)(xian)的(de)(de)干擾(rao)，可(ke)參見Q3問題的(de)(de)解(jie)答。
　　
　　宇宙射(she)線(xian)(xian)隨著掃描(miao)曝(pu)光時(shi)間(jian)的(de)(de)增加(jia)出(chu)現(xian)的(de)(de)概率會增加(jia)，因此(ci)當長時(shi)間(jian)掃描(miao)一(yi)個光譜(pu)時(shi)，必須避免宇宙射(she)線(xian)(xian)在(zai)光譜(pu)中(zhong)的(de)(de)出(chu)現(xian)，這可以通過軟件(jian)中(zhong)宇宙射(she)線(xian)(xian)去(qu)除(chu)能完(wan)成。這是一(yi)些(xie)軟件(jian)中(zhong)包含的(de)(de)實驗設置功能，當使用時(shi)，將(jiang)在(zai)同一(yi)樣品(pin)位置掃描(miao)三次（相當于積(ji)分三次），軟件(jian)將(jiang)比較這三次掃描(miao)獲得的(de)(de)光譜(pu)并去(qu)除(chu)沒有在(zai)所有光譜(pu)中(zhong)出(chu)現(xian)的(de)(de)尖銳峰。
　　
　　3、總是(shi)在(zai)測試時得(de)到一些位置重(zhong)復的(de)(de)、尖銳的(de)(de)譜峰(feng)，為什么(me)？
　　
　　當(dang)重復(fu)測試(shi)一(yi)個樣品時(shi)發(fa)(fa)現(xian)有(you)一(yi)些(xie)尖銳(rui)譜線(xian)(xian)在相同(tong)的(de)(de)位置(zhi)重復(fu)出現(xian)時(shi)，可(ke)以排除它們是宇宙(zhou)射(she)線(xian)(xian)的(de)(de)可(ke)能(因宇宙(zhou)射(she)線(xian)(xian)的(de)(de)位置(zhi)足隨機(ji)的(de)(de))。這些(xie)重復(fu)的(de)(de)尖銳(rui)譜線(xian)(xian)通常來自(zi)日光燈的(de)(de)發(fa)(fa)射(she)或CRT顯示器的(de)(de)磷光發(fa)(fa)射(she)，尤其當(dang)用長(chang)工作距離的(de)(de)物鏡時(shi)問題更嚴(yan)重。它們也可(ke)能來自(zi)氣(qi)體激光器發(fa)(fa)射(she)的(de)(de)等離子線(xian)(xian)，需(xu)仔細鑒別。
　　
　　便攜式拉曼光(guang)譜中的熒光(guang)干擾(rao)來自(zi)于汞的發(fa)(fa)(fa)射(she)，可以(yi)將室內(nei)的日(ri)光(guang)燈關閉或在較暗的白(bai)熾燈下工(gong)作。儀器室內(nei)應(ying)盡可能暗。簡單的做法(fa)是將儀器室裝飾(shi)成暗房樣式，以(yi)避(bi)免任何來自(zi)所謂白(bai)光(guang)發(fa)(fa)(fa)射(she)的無(wu)數反常規的發(fa)(fa)(fa)射(she)譜線。
　　
　　磷(lin)光(guang)(guang)線的干擾(rao)主要是(shi)CRT顯示(shi)器(qi)上(shang)所鍍磷(lin)光(guang)(guang)物質引起(qi)。如發(fa)(fa)現(xian)此種情況，可(ke)將CRT顯示(shi)器(qi)關掉或將熒光(guang)(guang)屏的亮(liang)度調暗。需要牢記的是(shi)：這些發(fa)(fa)射(she)譜(pu)線的波數值永(yong)遠是(shi)在(zai)同一個坐(zuo)標值上(shang)，當轉換不同波長激光(guang)(guang)激發(fa)(fa)時它(ta)們(men)在(zai)拉(la)曼譜(pu)上(shang)的位置是(shi)移動和改變(bian)的。
　　
　　當上述方(fang)法都不能解決問題(ti)而(er)你正在(zai)使用(yong)514nm激(ji)光(guang)(guang)進(jin)行(xing)激(ji)發(fa)時，檢查等離子線濾光(guang)(guang)片是否(fou)已(yi)經插上。在(zai)其它激(ji)光(guang)(guang)配置系統中(zhong)，要么不需要檢查，要么激(ji)光(guang)(guang)器(qi)上已(yi)經包含了(le)濾光(guang)(guang)片。
　　
　　4、為什么測試時一些光譜給出十分強的背景信號，而(er)這些信號湮蓋了拉曼信號？
　　
　　一些發熒(ying)(ying)光(guang)(guang)或磷光(guang)(guang)的(de)樣品在測量(liang)時會給出非常高(gao)的(de)背景光(guang)(guang)譜。令(ling)人遺憾的(de)是這些是樣品材(cai)料的(de)本(ben)征性質，是激光(guang)(guang)輻照下無法避免的(de)結果(guo)，而且通常情(qing)況下熒(ying)(ying)光(guang)(guang)比(bi)拉曼信號更強(qiang)。盡(jin)管這樣，我們仍可采取(qu)一些措施減少或減輕(qing)熒(ying)(ying)光(guang)(guang)副作用。
　　
　　猝(cu)(cu)滅(mie)(mie)(mie)：一(yi)些(xie)樣品可(ke)(ke)采(cai)用測試前將激光(guang)輻照在表面一(yi)段時間對熒光(guang)進行猝(cu)(cu)滅(mie)(mie)(mie)以(yi)減小熒光(guang)光(guang)譜的(de)背景增強拉(la)曼信號(hao)。猝(cu)(cu)滅(mie)(mie)(mie)的(de)時間根據(ju)樣品不同可(ke)(ke)從(cong)幾分鐘(zhong)到幾小時。值得注意的(de)是(shi)：猝(cu)(cu)滅(mie)(mie)(mie)效應是(shi)呈指數衰減的(de)，一(yi)開(kai)始(shi)就(jiu)可(ke)(ke)觀(guan)察(cha)到。
　　
　　共焦(jiao)(jiao)模式：采用共焦(jiao)(jiao)模式測(ce)量強(qiang)光下(xia)輻照的(de)小體(ti)(ti)積樣品時熒光將會大大降低(di)。該法(fa)也同樣適合有熒光襯(chen)底(di)的(de)樣品，例如被熒光物質基體(ti)(ti)包裹(guo)的(de)樣品。
　　
　　改(gai)(gai)變激(ji)發激(ji)光(guang)的(de)波長(chang)：有時改(gai)(gai)變波長(chang)是可行(xing)的(de)避免熒光(guang)干擾(rao)的(de)方法。對用可見光(guang)激(ji)發的(de)系統(tong)，熒光(guang)都是一件(jian)麻(ma)煩事情，將(jiang)激(ji)發波長(chang)移至紫外或近(jin)紅外區(qu)域很(hen)可能解決(jue)或減少此類問(wen)題(ti)。
　　
　　如果拉(la)曼(man)實驗室(shi)里有太(tai)多的室(shi)內光(guang)(guang)(guang)源比如熒光(guang)(guang)(guang)、白(bai)熾(chi)燈(deng)或(huo)日光(guang)(guang)(guang)燈(deng)等，這會(hui)在(zai)測試(shi)光(guang)(guang)(guang)譜上出現不必要的背景信(xin)號。因此在(zai)測試(shi)的時(shi)候(hou)應將室(shi)內光(guang)(guang)(guang)關閉或(huo)降到小(xiao)或(huo)用遮光(guang)(guang)(guang)罩將樣品臺(tai)罩住以避(bi)免外界的雜(za)散光(guang)(guang)(guang)進(jin)入光(guang)(guang)(guang)譜儀。
　　
　　5、為(wei)什么待測(ce)樣品的信號很(hen)弱？信噪比很(hen)差？
　　
　　當進行樣品測試(shi)時(shi)(shi)發現拉曼光(guang)譜信號很(hen)弱，首先要檢查(cha)樣品是(shi)否(fou)正確放置(zhi)在顯微鏡下并且處(chu)(chu)于聚焦狀(zhuang)態(tai)。你(ni)也可(ke)以將測試(shi)區域移到樣品的另一(yi)個部位(wei)。同(tong)時(shi)(shi)檢查(cha)儀(yi)器是(shi)否(fou)處(chu)(chu)于常規狀(zhuang)態(tai)而不是(shi)處(chu)(chu)在共(gong)焦狀(zhuang)態(tai)。如(ru)果激光(guang)功(gong)率小于100％，應(ying)嘗試(shi)提高功(gong)率增(zeng)強信號。如(ru)果光(guang)譜噪聲很(hen)大，可(ke)采(cai)用增(zeng)加掃描積(ji)分(fen)時(shi)(shi)間或積(ji)分(fen)次數來提高信噪比。
　　
　　增(zeng)(zeng)加(jia)掃描積分(fen)時(shi)間可以讓CCD獲取更多的(de)拉(la)曼信號，增(zeng)(zeng)強(qiang)整個(ge)無關(guan)噪(zao)聲(sheng)的(de)特(te)征。該(gai)法適宜于當背景和(he)拉(la)曼信號都低的(de)情(qing)景。當兩者都不強(qiang)時(shi)，增(zeng)(zeng)加(jia)積分(fen)時(shi)間只(zhi)會增(zeng)(zeng)加(jia)CCD探測器飽(bao)和(he)的(de)機會。
　　
　　對幾個特定的掃(sao)描光(guang)譜進行數據疊(die)加可以增強隨機背景噪聲下的拉曼信號，增加信噪比。
　　
　　適當選擇掃描(miao)積(ji)分(fen)(fen)時間和積(ji)分(fen)(fen)次數(shu)(shu)可獲(huo)(huo)得大(da)可能的曝光度增(zeng)加(jia)信噪比(bi)。不過要注意一點：信噪比(bi)跟(gen)積(ji)分(fen)(fen)次數(shu)(shu)的平方根成正比(bi)，疊加(jia)四次可獲(huo)(huo)得二倍信噪比(bi)的提高。
　　
　　另一個與(yu)信噪比(bi)密(mi)切相關的參(can)數是信背(bei)(bei)比(bi)。如果(guo)背(bei)(bei)景部分很高，將會湮(yin)蓋拉曼信號只給出系統噪聲。
　　
　　6、怎樣(yang)避(bi)免被(bei)測試的(de)樣(yang)品(pin)被(bei)激(ji)光燒毀？
　　
　　當(dang)進行樣品(pin)測(ce)試時，激(ji)光(guang)(guang)(guang)照射在(zai)(zai)樣品(pin)表(biao)面(mian)的(de)能量是(shi)非常(chang)大的(de)，尤其在(zai)(zai)采用NIR或UV激(ji)光(guang)(guang)(guang)激(ji)發(fa)時。尤其是(shi)一(yi)些樣品(pin)在(zai)(zai)光(guang)(guang)(guang)照下(xia)對(dui)熱或光(guang)(guang)(guang)是(shi)十分敏(min)感的(de)，這(zhe)會(hui)導致(zhi)測(ce)量信(xin)(xin)號包含(han)樣品(pin)燒毀后(hou)(hou)的(de)特(te)征，而不是(shi)樣品(pin)本(ben)(ben)征的(de)信(xin)(xin)號(例如，非晶(jing)碳(tan)膜在(zai)(zai)1500cm-1波數附近的(de)本(ben)(ben)征峰(feng)在(zai)(zai)強光(guang)(guang)(guang)激(ji)發(fa)時會(hui)顯示(shi)出(chu)石墨化的(de)碳(tan)峰(feng))。通(tong)常(chang)遇到這(zhe)樣的(de)問題(ti)時，可在(zai)(zai)樣品(pin)測(ce)試前后(hou)(hou)通(tong)過顯微鏡(jing)白光(guang)(guang)(guang)像觀(guan)察(cha)樣品(pin)表(biao)面(mian)是(shi)否發(fa)生(sheng)明顯變化，因(yin)此需選擇正確的(de)激(ji)光(guang)(guang)(guang)功率來進行測(ce)試。
　　
　　為避(bi)(bi)免樣(yang)品(pin)表(biao)面燒(shao)毀(hui)，在開始(shi)測試時應選用較低(di)(di)的激(ji)發(fa)功(gong)率(lv)(lv)，尤其用NIR或UV激(ji)光(guang)激(ji)發(fa)時。在保證樣(yang)品(pin)不被燒(shao)毀(hui)的前提下可(ke)(ke)提高激(ji)發(fa)功(gong)率(lv)(lv)以(yi)(yi)得到強的信號。當激(ji)光(guang)功(gong)率(lv)(lv)衰減到1％仍(reng)無法避(bi)(bi)免樣(yang)品(pin)燒(shao)毀(hui)時，可(ke)(ke)考慮(lv)(lv)轉換低(di)(di)倍物鏡以(yi)(yi)降低(di)(di)照射(she)在樣(yang)品(pin)表(biao)面的功(gong)率(lv)(lv)密度。另外(wai)還(huan)可(ke)(ke)采用欠焦照射(she)模式(shi)或線聚焦照射(she)模式(shi)。如(ru)果問題是由于高功(gong)率(lv)(lv)二極管激(ji)光(guang)器引起的，可(ke)(ke)考慮(lv)(lv)轉換成(cheng)低(di)(di)功(gong)率(lv)(lv)可(ke)(ke)見激(ji)發(fa)系統。
　　
　　7、當(dang)測試的樣品(pin)是液態、粉(fen)末或體(ti)積(ji)非常大時怎么辦？
　　
　　液體(ti)樣(yang)品(pin)可采用毛細管或(huo)液體(ti)池或(huo)直接將液體(ti)滴在(zai)載(zai)玻片上(shang)(shang)進行(xing)測試，粉(fen)末樣(yang)品(pin)可取少許(xu)放置在(zai)載(zai)玻片上(shang)(shang)進行(xing)測試，固體(ti)大(da)樣(yang)品(pin)可由儀器公司提(ti)供的大(da)樣(yang)品(pin)臺進行(xing)測試。
　　
　　8、當樣(yang)品需(xu)要在不同高壓下測(ce)試怎(zen)么(me)辦？
　　
　　可(ke)向(xiang)儀器(qi)公司購置或在(zai)國內相關單位訂(ding)制一套拉曼高壓(ya)樣品(pin)測(ce)(ce)試池對樣品(pin)進行測(ce)(ce)試。
　　
　　9、如果(guo)想進行(xing)偏振拉曼測量該怎么辦？
　　
　　應配置一套偏振片和半(ban)波片進行(xing)測(ce)試，偏振拉曼可(ke)幫(bang)助測(ce)試者對分(fen)子振動的對稱性進行(xing)檢(jian)測(ce)。
　　
　　10、為什么將(jiang)測(ce)試樣品(pin)放置不(bu)(bu)同取向時得(de)到的拉曼譜(pu)圖不(bu)(bu)相同？
　　
　　這是因(yin)為入射(she)激(ji)光照射(she)在(zai)樣品(pin)表面不同晶面取向上引起的。采用(yong)四分之一波(bo)片對(dui)激(ji)光進(jin)行擾偏(pian)可幫助去除方(fang)向效(xiao)應。一般可向儀器公司或其它提(ti)供光學元件(jian)的公司購買四分之一波(bo)片。